技术指标
技术指标 SEM: 加速电压：200V-30kV 束流：最大200nA并连续可调 放大倍数：14x-1,000,000x (四幅图像显示) 分辨率： 高真空 30 kV下0.8 nm ， 30 kV下1.0 nm (SE)(STEM)*， 30 kV下2.5 nm (BSE)*，1 kV下3.0 nm (SE)；低真空 30 kV下1.4 nm (SE)， 30 kV下 2.5 nm(BSE) 3 kV下3.0 nm (SE)。 EDS: 元素可自动标定 计数率:1,00
测试范围
材料，食品和医药，纤维和金相，微电子和电池，生物和化工，高分子和烟草等领域样品的表面形貌分析及材料元素半定量，定性分析。
